系统芯片(SoC)验证方法与技术/(美)Prakash Rashinkar, (美)Peter Paterson,(美)Leena Singh著
标准编号:7-121-00589-1   
主要著者:拉申卡尔  la shen ka er   佩特森  pei te sen   辛格  xin ge   
次要著者:孙海平  sun hai ping   丁健  ding jian   
出版信息:       
载体形态:12,263页 ; 26cm
价格描述:CNY29.00
主题词:集成电路  芯片  验证  
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内容摘要

本书从最高层次的系统级验证直至最终的物理实现和签付,详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具。
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510824000040017 TN4/5052 在架 苍溪县图书馆 苍溪县图书馆 总馆流通库 CNY29.00 CNY29.00 2017-04-12 登录
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